外部扩展存储空间的方法：

本系统主要是将外部传感器获得的信号进行采样并通过F2812内嵌的AD转化模块转化为数据记录下来。因此，根据测试记录系统的要求，F2812片内共有18K的RAM，如若进行大量信号测试的话，其片内RAM显然是不够的，因此我们必须通过扩展片外的RAM来加大存储空间。F2812共可以扩展1M×16bit的外部储存空间，所以我们选用了两个521k×16bit的SRAM，将SRAM1分配在ZONE2，地址范围为0x80000～0xBFFFF，片选信号与TMS320F2812的XZCS2相连。SRAM2分配在ZONE6，地址范围为0x100000～0x13FFFF，片选信号为XZCS6。这样就可以大大增大了测试系统的存储空间，基本可以满足大多数情况下的测试记录要求了。

本论文主要工作为：

（1）学习掌握TMS320F2812芯片的特点、内核组成、外设功能、时钟及系统控制。熟悉DSP系统开发的流程和方法及CCS的使用；

（2）详细阐述了DSP系统的设计思路，介绍了针对标准TMS320调试接口的集成开发环境--CCS代码调试器。采用TDS510硬件仿真器，主机通过调试器和JTAG仿真电缆与目标系统的JTAG接口相连接，控制系统板上的DSP器件。学习数据采集系统的常用设计方法，完成了基于DSP2812的数据采集系统的设计；

（3）学习Protel99SE软件，并完成硬件电路的设计和测试；

（4）基于设计好的系统，在CCS环境下编写系统C语言程序。

（5）采用XDS510硬件仿真器对系统经行仿真调试与验证。