根据设计要求，本文设计的存储测试仪，是以低功耗的单片机MSP430作为控制器件，使用EEPROM掉电不丢失的器件存储数据，选用AT24C1024芯片来扩展单片机的存储容量。通过测量温度来检验系统的性能，并通过MAX232串行接口来实现与PC机通信，以实现数据在PC端的显示与处理。

本文完成了基于单片机的小型存储测试仪的设计。所设计的存储测试仪由控制电路、存储电路、接口电路、复位电路、时钟电路、电源电路、AD转换电路组成[3]。以MSP430F149单片机为控制核心，由于单片机自带内存不足，这里使用 EEPROM芯片AT24C1024来扩展内存；采用RS232串口与PC机相连，从而使得存储的数据可以传输至PC机进行处理与再现；最有以温度测量验证存储测试仪的性能。   

论文各部分安排如下：

第一章：前言，介绍课题的研究背景及意义、国内外研究现状，并介绍了课题的主要研究内容以及各部分安排。

第二章：介绍存储测试仪的硬件电路设计。包括MSP430F149最小系统、基于LM75的温度传感器电路、基于AT24C1024的存储电路、经过MAX232电平转换的RS232通信电路、A/D转换电路。

第三章：介绍系统的软件设计。分别介绍了A/D转换部分的软件设计，温度传感器部分的软件设计，外部存储部分的软件设计，RS232串行通信部分的设计流程。

第四章：结论。对存储测试仪设计的总结，指出不足之处。

本次毕业设计的要求是设计一个基于单片机的存储测试仪，在做毕业设计的过程中，从开始的拿到题目后的查阅资料以及相关文献，学习存储测试的相关知识一直到最后完成设计，我受益良多，在这一过程中我学到了很多。